一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，膜厚测试仪，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，镀层分析仪，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
3在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数
4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
第二，在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时，X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中，测量的空间大X射线途经的环境就比较大，当温度高时，测量值减小，当温度低时，测量值则增加。
第三，在测量过程中，被测物体上，可能会有附着物，也会影响测量的精度。比如，在轧制生产中，测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物，这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响，出现误差。另外，光谱测厚仪，被测量的物体，可能会上下跳动，偏离测量时的位置，这种倾斜也会影响测量的精度。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu品质 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
激光测厚仪的技术指标介绍
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，淮北测厚仪，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
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