X-RAY测厚仪特点
1，价格高，机种不同，价格在10万~100万左右，可测试P（磷）~U（铀），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，无损检测，Windows操作系统，使用简便。操作快速，能适应多类镀层，大量检测，但体积较大，计算机除外约100000cm2，50000g左右。
3，测量厚度范围较广，
0.002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。
4，测量精度高，镀层膜厚仪，1%左右，涂层测厚仪，分辨率高，0.001um左右。
5，测头的面积较小，对需测的样品要求不高：0.1mmψ以下也可测量，基材厚度无要求。
6，可编程XYZ测量台及大移动范围。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，扬州测厚仪，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律，测厚仪厂家，式中K和S是常数，因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
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X射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
镀层膜厚仪-扬州测厚仪-一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）是一家从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“江苏一六仪器”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务为先，用户至上”的原则，使一六仪器在专用仪器仪表中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！
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