[供应]易恩电气分立器件测试系统EN-2005B

设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

系统支持 Si 器件和 SiC 器件的静态参数测试。








ENJ2005-B 半导体分立器件测试系统

测试参数：

漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IROPTO

击穿参数：BVCEO   BVCES300μS Pulse above 10mABVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

增益参数：hFE、CTR、gFS、

导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VFOpto-DiodeVGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch  IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VORegulator、IINRegulator

混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

关断参数：VGSOFF      

触发参数：IGT、VGT

保持参数：IH、IH+、IH-

锁定参数：IL、IL+、IL-            

  基础配置：

技术参数

ENJ2005-B型

主极电流

100nA-50A

扩展电流

100A、500A、1000A、1200A

电压分辨率

1mV

电流分辨率

1nA可扩展至10pA

测试精度

0.2%+2LSB

测试速度

0.5mS/参数