6mm粉杯： 607.59毫升（-141.3毫升，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）
10mm 粉杯：1687.75毫升（-392.5毫升，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）
4、粉杯总高度： 86mm< H<107.5
5、粉末施压 10mm粉杯
： P <3.5MPa
6mm 粉杯
： P<10.4MPa
注：以上为现有设计粉杯的基本参数，可以按用户要求定制整套测试夹具
GCQS-37塑料薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪
GCQS-37绝缘纸工频介电常数及介质损耗测试仪
GCQS-37绝缘材料工频介电常数及介质损耗测试仪
GCQS-37电容器薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪
DDJ-100KV绝缘材料电压击穿试验仪
NDH-A 微机控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪
NDH-B 触摸屏控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪
GEST-121 绝缘材料体积表面电阻率测定仪
NLD-A 高压漏电起痕试验仪
NLD-B 耐痕化指数测定仪（漏电起痕试验机）
GCSTD-A 高频介电常数及介质损耗测试仪
GEST-122
炭素材料电阻率测定仪
GEST-123
电线、电缆金属材料电阻率测试装置/导体电阻率测试仪
GEST-124
炭阳极用煅后石油焦粉末电阻率测试仪
GEST-125
半导电橡塑材料体积电阻率试验仪
北京冠测试验仪器有限公司专注于材料电性能检测仪器试验方法的创新及应用，是集专业研发﹨生产﹨销售于一体的高科技企业.
符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖最常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）
方块电阻测量范围复盖最常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。
全新设计的高精度宽量程、多路电阻测试仪，采用结构紧凑的插卡式设计，插卡可分为采集卡、报警卡、可任意配置。每张测试卡可对8路电阻进行扫描测试。采用高性能ARM微处理器控制。真彩4.3寸液晶大可同时显示48路电阻值，并且每个通道可以单独设置比较器，UC2517X可以测试10μΩ～300KΩ的电阻，大显示30，000数。同时还具有选配的温度补偿功能可以适应不同要求的测试。应用于自动化设备，可使用RS232C及HANDLER接口输出GD/NG信号，以提高生产自动化测试能力。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。