[服务]高温储存寿命试验测试厂家赛特检测

发布地：	广东省
发布时间：	2020-3-23 10:03:31
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实验目的

为了考核高温对试样的影响，确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温试验箱。

实验原理

电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变化，从而确定电子元器件的抗高温能力。

实验参考标准

JESD22-A103、GJB1864A-2011

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