测头结构
所有的测头都安装在套管里，以确保测头安全稳定地定位，并保持测头适当的接触压力。套管前端的V型槽可保证在凸面上准确测量。测量时须握住测头上套管，保持测头轴线与被测面垂直。测头的顶端，由耐用的硬质材料制成。
三、参数
测量范围: F型：0～3000μm
N型：0～2000μm
误差: ±1μm或±2～4%
曲率半径: 5mm(凸)；25mm(凹)
测量面积: φ20mm
基体厚度: 0.5mm(F)；50μm(N)
显示: 4位数显，背光可选
测量单位: um-mils可选
校准方式: 标准、一点、两点
电源: 2节5号电池
常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，涂层测厚仪专业销售，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，电解涂层测厚仪，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，122涂层测厚仪，速度慢，涂层测厚仪，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
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